IC芯片元器件的共面性測試儀問題

引腳的共面性指器件引腳底面不在同一平面的情況。一般用引腳底面離元件引線確定的平面的距離表示。引腳共面性的問題，主要涉及多引腳的器件，如QFP、BGA、連接器等。

一、儀器工作原理：

測量儀工作原理：被測工件（置于工作臺上）由LED表面光或輪廓光（在底座內(nèi)）照明后，經(jīng)變焦距物鏡與彩色CCD攝影機罩殼內(nèi)攝取被測零件影像，再通過S端子傳送至計算機及顯示器上，軟件在顯示器上產(chǎn)生的視頻十字線為基準(zhǔn)，對其進(jìn)行瞄準(zhǔn)測量，通過工作臺帶動光學(xué)尺與在X、Y方向上移動，取空間各點坐標(biāo)值，由轉(zhuǎn)接卡至計算機，對測量坐標(biāo)值進(jìn)行幾何運算，完成各種數(shù)據(jù)量測工作。

二、應(yīng)用領(lǐng)域：

 本儀器采用測量軟件，能率的檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀，1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪，成形銑刀等各種工具，刀具和零件，以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。

三、儀器功能：

    產(chǎn)品基本幾何元素測量、組合元素測量、幾何元素構(gòu)造、形位公差評定、逆向工程等，各種報表的輸出,各種產(chǎn)品的檢測。

四、儀器特點：

    1、機臺核心零部件全部采用產(chǎn)品，整機經(jīng)過嚴(yán)格，規(guī)范的組裝和調(diào)試，整機在24小時恒溫間內(nèi)經(jīng)300小時不間斷運行負(fù)載測試。

2、自準(zhǔn)直儀校準(zhǔn)機臺機身工作臺裝配工藝，保證機器空間測量高精度。

3、工作臺，經(jīng)過嚴(yán)格熱處理時效，長期使用保證基準(zhǔn)面不變形，導(dǎo)軌運行精度穩(wěn)定。

4、采用山東濟南青“00”級花崗石底座，保證機械系統(tǒng)*的穩(wěn)定性。

5、采用高精密V型交叉導(dǎo)軌，保證儀器*的機械精度。

五、測量軟件簡介：

 1、全中文界面（語音可選擇）、鼠標(biāo)直接點擊操作，智能型簡便易學(xué)易用。

2、對一般幾何測量圓、點、線、面、橢圓、圓弧、槽形、O形環(huán)、距離、角度、開云線、閉云線等，可以自動抓取量測數(shù)據(jù)，度穩(wěn)定。

3、測量方法多樣（自動判別測量、采點測量、對比測量、公差對比測量、預(yù)置元素等），可以滿足用戶不同需求，大大提高使用的方便性和測量精度。

4、測量工件可任意擺放，軟件具有強大的坐標(biāo)平移、旋轉(zhuǎn)或重新設(shè)置功能。

5、可以在影像上對所測元素直接進(jìn)行尺寸標(biāo)定，給客戶以清晰、直觀的感覺。

6、無論規(guī)則與不規(guī)則形狀工件只需鼠標(biāo)框選，圖形自動尋邊找點，進(jìn)行二維圖形抄數(shù)。

7、實現(xiàn)DXF格式的輸入和輸出，還可保存BMP圖片以及用戶程序格式。

8、直觀、豐富的報表輸出，Word 、Excel、TXT格式及統(tǒng)計功能。

9、實用的SPC模塊。

1. 十字線中心采點、鼠標(biāo)采點、自動對焦采點、鼠標(biāo)自動采點、直線采點、方形框采點、放大采點、采集點。
2. 采點測量直線、框選測量直線、分段框選測量直線、采點測量圓、框選測量圓、分段框選測量圓、單擊圓內(nèi)部測量圓、框選測量多圓。
3. 采點測量弧、框選測量弧、分段測量超過屏幕的弧、采點測量橢圓、框選測量橢圓、分段測量橢圓、采點測量矩形、框選測量矩形。
4. 采點測量槽形、框選測量槽形、采點測量O環(huán)形、框選測量O環(huán)形、采點測量云線、采點測量閉合云線、影像測量高度、圓心框采點。
5. 自動捕捉測量、測量超過屏幕的線，弧，圓，橢圓、刪除后一次采集的點。